单次脉冲能量耗散衡量的是低边驱动全生命周期不损伤芯片的情况下，短时间能够承受的最大能量耗散值；重复脉冲能量耗散衡量的是低边驱动在周期性关断过程中在不会因为累积效应对芯片造成损伤情况下所吸收的单次退磁能量值。

NSD56008-Q1常用于驱动小电流感性负载例如12V继电器，25度摄氏度下，最大平均电流为300mA左右，85摄氏度条件下，最大平均电流为200mA左右。根据其实际应用负载电流并考虑充足余量的情况下，在负载电流580mA测试中，NSD56008-Q1单次脉冲测试可承受120mJ以上能量耗散(datasheet 中降额为50mj@440mA, 25℃)。重复脉冲测试中单次能量耗散为20mJ（datasheet中降额为10mj@440mA, 85℃），其在环境温度85度情况下，完成200万次关断操作后仍然保持功能正常。

图4：NSD56008-Q1 感性负载关断 - Single Pulse 单脉冲关断能量 - 25摄氏度

图5：NSD56008-Q1 感性负载关断 - Repetitive Pulse 重复多次脉冲关断能量 - 200万次反复关断 - 85摄氏度

4）诊断和保护(Diagnosis & Protection)

NSD56008-Q1配备丰富的保护与诊断功能，分别提供逻辑供电与功率供电欠压保护；每个通道独立设计过载与过温保护，各过温过载以及负载状态的诊断信息通道间相互独立并能够通过寄存器汇报到MCU，一个通道的错误状态不会影响其他通道正常工作。

图6：NSD56008典型应用图

纳芯微低边驱动产品系列选型表：